CVE-2026-34774Electron框架存在释放后重用漏洞。使用离屏渲染并允许子窗口的应用,在父窗口销毁后,子窗口重绘将访问已释放内存,导致崩溃或内存损坏。
该漏洞源于Electron在处理离屏渲染时的内存管理逻辑错误。当应用程序配置`webPreferences.offscreen: true`并允许`window.open()`创建子窗口时,会建立父子窗口关系。若父级离屏WebContents被销毁(如关闭窗口),而子窗口仍处于活动状态,子窗口随后的绘制操作将尝试访问已被释放的父级内存区域。这种释放后重用行为可能导致内存损坏,攻击者可利用此漏洞导致应用程序崩溃或潜在的任意代码执行。只有同时满足使用离屏渲染和允许子窗口这两个条件的应用才受影响。